前言
相信大家都有替手机或电子产品充电的经验，而在进行充电的过程中我们往往都会遇到手机或电子产品充电过热的状况，然而这个发热现象有可能来自于电池或是充电回路的IC；又或者是另一个比较少人特别留意的组件，那就是充电用的连接器！(以下简称Connector)
Connector温度过热的4大潜在风险
一旦connector的温度过热，对电子产品可能造成的影响主要可分为以下4大风险：
Connector温度过热潜在风险1：电气性能降低
在高温环境下，connector的电气性能可能会受到导通电阻增加、信号传输损耗增加等各种影响，而这些现象都可能导致connector的功能受损或无法正常工作。
Connector温度过热潜在风险2：材料膨胀不均
connector中所使用的材料在高温下可能会膨胀，如果不同部位材料的膨胀率不一致，就很有可能导致connector的结构变形或破裂，进而影响connector的可靠性和耐用性。
Connector温度过热潜在风险3：导热不良
connector在高温下可能会产生大量热量，如果connector的散热设计不良或材料的导热性能不佳，极可能会导致connector温度升高速度过快，从而影响connector的性能和寿命。
Connector温度过热潜在风险4：焊接问题
connector中的焊接点在高温下可能会受到应力和热膨胀的影响，这将容易导致焊接点断裂或松动，进而对connector的连接可靠性产生负面影响。
上述的connector潜在风险不仅会大大增加产品故障或损坏的可能性，造成用户在产品体验大打折扣，严重者甚至引起火灾，威胁到消费者生命财产的安全。
Connector温度过热问题如何改善？
针对connector发热问题，USB协会设计了一套Connector温升测试，其目的是为了评估Connector在充电过程中的温度变化情况。而这种温升测试除了可以检验connector在高功率充电期间产生高温下的性能和可靠性，更可同时确保其能够正常运作，不会因温度升高而损坏或失效。
有了温升测试这项利器，我们即可针对connector的耐热性能、温度稳定性、导热性能等诸多特性来进行相关评估，并确保其能够在高温环境下长时间稳定运行。此外，温升测试还可以用来验证connector的设计和材料的选择上是否符合相关的温度要求与标准。
专家怎么做？
百佳泰透过Power supply和E-load来稳定输出测试电流给connector，并使用DAQ实时记录connector的温升状况，结合以上仪器来快速达到仿真connector充电的使用情境，确保其在使用过程中的温度变化符合USB协会的规定。
Connector温升测试：实测案例解析
为方便大家进一步了解，接下来我们列举两个USB认证Fail的例子如下：，
案例1：Connector本身材质影响，导致USB认证无法通过
Connector的LLCR值若小于30Ω，对于温升测试上比较能达到USB协会所规定△30℃(温升值减去室温_23~25℃之间)。由于阻抗过高会增加消耗的功耗，进而促进温度的提升。
案例2：客户提供的测试板不符合规范，导致USB认证无法通过
测试治具Layout线不可太细。这是因为太细的Layout线会因为阻抗关系使得温度提升，下图以USB协会所规定Layout线尺寸和实际样品Layout线太细为例。
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