高频特性看不懂？设计验证好花时间？
在上一篇文章，百佳泰归纳高频连接器设计对机构工程师的挑战及潜在风险，高频的特性在传统低速连接器设计时是不用考虑太多，但在高速连接器的设计上却是影响质量的关键因素。偏偏高频特性非常的复杂，而机构工程师对于高频特性的认知又还未累积足够的经验，因此在设计及验证高频连接器时所花的时间都非常的久，而当验证结果出现Fail时的分析也无法有效率的找出问题点去修正。
轻松破解！高频特性之潜在风险一次看
百佳泰拥有完整的环境设备及丰富的项目经验，分析及归纳出当高频特性不良时，可能引起的潜在风险：
1. Insertion Loss
Insertion Loss过大时会导致讯号衰减加剧，进而影响传输距离及带宽。
2. Return Loss
Return Loss过大时会导致讯号的反射及干扰，进而影响讯号的质量。
上述的潜在风险可能导致数据降频传输、误码率过高，进而使整台服务器效能降低。
当Insertion Loss 或是Return Loss验证总是差一点而无法Pass，此时工程师最大的挑战便是该怎么改善？或许会想去藉由观察TDR，希望能解开一些疑问。但棘手的是TDR又符合规范，此时又该怎么去着手修正？ 百佳泰累积了丰富的客户产品项目经验，因应上述的风险，提出以下例子来说明可以改善的思考方向。
实测实例秀给你看！
图一为USB 4.0 connector mating的TDR实测实例，依据USB 4.0的规范阻抗上下限为85 Ω ± 9 40 ps （20% – 80%） rise time。从图中很明显的可以看出TDR实测是符合规范的，而USB 4.0 的IRL测项却过不了。对于百佳泰的量测工程师，这样的TDR曲线其实是有空间改善的，因为反射次数的多寡往往也能决定S参数的好坏。由此实例可以看出虽然TDR结果是符合规范的，但可能由于connector的接触阻抗过高而有多次的反射，因此，解决多次反射的问题或许就能同时解决IRL测不过的困扰。
（图一）
Faster, Easier, Better！值得您信赖的高频连接器检测技术顾问
百佳泰熟悉各种产业高频连接器的规格、拥有丰富的客户产品项目经验，同时也是众多协会的认证实验室，具有下面的几项优势：
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