PCIe技术的演进与挑战
PCIe (Peripheral Component Interconnect Express) 技术作为当今计算机系统的关键互连技术，其高频、高速的特性对系统性能和可靠性提出了极高的要求。随着PCIe 5.0、6.0和7.0等新一代标准的推出，数据传输速率不断攀升，对电气讯号的完整性、稳定性提出了更严苛的挑战。
- 高频高速：更高的数据传输速率意味着讯号频率更高，对讯号完整性、时序要求也更高；PCIe 5.0、PCIe 6.0每信道的数据传输速率分别为32 Gbps和64 Gbps，而PCIe 7.0每信道的数据传输速率高达128 Gbps。
- 多样性应用：PCIe不仅应用于传统的计算机系统，更拓展到消费电子、汽车、工业等多个领域，对产品的可靠性、稳定性要求各不相同。
- 讯号复杂度：高速传输、多种讯号类型以及复杂的编码方式，使得PCIe讯号的量测变得更加复杂。
一定要进行PCIe电气讯号量测的主要原因
- 确保讯号完整性：PCIe讯号在高速传输过程中容易受噪声、串扰等因素的影响，导致讯号完整性下降，甚至产生错误。
- 及早发现潜在问题：精准的量测可以帮助识别和解决潜在问题，避免系统在实际应用中出现故障或性能问题。
PCIe测试治具的重要性
为了应对PCIe技术发展带来的挑战，PCIe测试治具扮演了至关重要的角色。测试治具作为一种协助PCIe产品测试的工具，能够提供精准、可靠的量测环境，确保测试结果的准确性。
- 提供标准化测试环境：测试治具根据PCIe标准规范设计，能够提供符合标准要求的测试环境，确保测试结果的可比性。
- 提高测试精度：测试治具搭配高精度量测仪器，能够精确捕获PCIe讯号，提高测试精度。
PCIe测试治具与电气讯号量测是确保PCIe系统性能与可靠性的关键。透过精准的量测，可以及早发现并解决潜在的问题，提高产品的质量和可靠性。
客户的问题与难处
解析客户痛点— 多样化PCIe Form Factor测试困境
客户是一家横跨消费性PC和服务器领域的科技巨擘。为确保产品的卓越性能和可靠性，他们计划在内部建置高频的PCIe测试环境。然而，随着PCIe技术的快速发展，以及客户产品线的多元化，他们在产品导入PCIe 5.0规格后的测试方面遭遇了前所未有的挑战。
找出问题点：
- Form Factor限制：PCIe协会在PCIe 5.0上现行的CEM标准测试治具无法满足客户多样化的PCIe form factor需求，如M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等。这些form factor缺乏专用测试治具，导致测试工作受阻。
- 开发自制治具造成的测试延迟：由于缺乏合适的测试治具，客户不得不评估自行开发治具，但这会耗费大量时间和人力，严重影响产品的上市时程。
- 测试数据不准确：自行开发的治具可能导致测试数据不准确，无法真实反映产品的性能，增加产品上市后的风险。
- 成本增加：自行开发治具，不仅消耗研发资源，更增加了成本的支出。
具体需求分析：
客户迫切需要一套能够满足以下需求的PCIe测试解决方案：
- 全面的Form Factor支持：需涵盖M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多种PCIe form factor，提供一站式的测试治具解决方案。
- 确保产品质量：需要透过合适的测试治具，准确检测各种form factor下的产品讯号质量，确保测试数据的准确性，保证产品在市场中的竞争力。
- 降低成本：避免需要自行开发的成本，减轻成本负担。
未能有效解决问题，您的产品将面临三大影响：
- 产品上市延迟：无法正确量测将直接影响产品上市时程，导致市场竞争力下降。
- 产品质量问题：不准确的测试数据可能导致产品在市场上出现性能问题或可靠性问题，损害品牌形象。
- 开发成本增加：自行开发治具将增加研发成本。
如果不能有效解决这些问题，客户将面临测试进度滞后、产品质量无法保证、以及市场竞争力下降等风险。因此，对于支持多种form factor的PCIe测试治具的迫切需求是他们最大的挑战。
百佳泰PCIe测试治具解决方案 协助客户解决各种问题
多方位的Form Factor支持，为客户量身打造的完美解答
针对客户在PCIe测试中遇到的挑战，百佳泰是业界率先推出涵盖所有PCIe form factor的测试治具的企业。我们提供包括M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多种form factor的PCIe测试治具解决方案，旨在满足客户的全面测试需求。这些治具经过精心设计，能够即刻投入使用，无需客户自行开发，确保测试过程中不会受到设备限制，全面覆盖其产品测试需求。客户在导入我们的治具后，成功解决了他们面临的测试挑战。
百佳泰专属测试治具，给您质量信赖的保证。
高质量服务为您创造价值 Time to Market with Quality！
Faster！Easier！Better！
凭借百佳泰深耕产业多年的经验，我们专属开发的PCIe测试治具解决方案，能为客户带来三大核心优势：
Faster：加速测试流程，缩短上市时间
- 全面覆盖各种form factor：
- 全面支持M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等不同form factor，满足客户各种设计验证需求。
- 实时销售与交付：
- 经过严格验证的测试治具可立即交付使用，无需等待开发时间。
- 提高测试效率：
- 使用百佳泰提供的专用测试治具，客户除了能够提高测试效率，更能够确保各种form factor的PCIe接口都能得到准确的测试。
- 缩短产品上市时间：
- 避免自行开发测试治具造成的延迟，快速启动测试流程。
Easier：优化测试，降低成本
- 减少开发与部署成本：
- 客户无需投入资源自行开发设计测试治具，这大大降低了开发和部署成本。我们提供现成治具即刻解决客户的测试需求，避免因自行开发而带来的高成本和技术风险。
- 降低技术门坎：
- 百佳泰PCIe治具设计精良，采用两倍线校正技术进行开发，客户无须同时购买Compliance Load Board (CLB)跟Compliance Base Board (CBB)治具，即可完成校正。
- 多方位技术支持：
- 专业团队提供完善的技术支持和服务，解决您所有疑问。
Better：业界认可治具，提升测试质量
- 高精度设计：
- 治具经过精确设计，强化SMPM连接器结构，以及具弹性的线缆配件，可支持至40GHz，确保测试数据的准确性和一致性。
- 行业标杆的认可：
- 我们的治具已经被多家大品牌、制造商和芯片供货商采用，用于他们的内部测试。这些认可证明了我们治具的可靠性和专业性。
- 多方位PCIe测试支持：
- 满足各种PCIe form factor的专业测试需求，无遗漏之忧。
- 百佳泰同时开发了专用于校准和测量主机/系统的CLB治具，以及专门用于校准和测量Add-in Card (AIC)的CBB治具，提供了对各类产品测试需求的全面支持。
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- 提高测试效率，确保结果可靠性
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除了PCIe测试治具方案外，同时也提供PCIe自动化测试解决方案，如果您对我们的PCIe自动化测试解决方案有兴趣，欢迎随时与百佳泰联系。
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