Allion Labs / Blake Chu

温度,对于电子元组件来说,一直都是不可避免的问题。以储存装置来说,一般的HDD/SSD在通电运作过程时,工作温度通常在0°C~60°C上下都是正常的温度范围。若温度高过70°C以上,除了影响效能,更会导致产品寿命提前结束。装设在服务器中的HDD/SSD,考虑到稳定耐用度,温度更是产品设计的必要考虑因素之一。

以工业标准来计算(JEDEC Data Retention),我们可以在可靠性测试(reliability)中,利用温度变化的条件,来仿真储存装置老化实验,验证该产品老化试验下寿命的表现。百佳泰身为测试验证领导品牌,提供了相关客制化专用测试平台与恒温湿度控制设备,提供HDD/SSD相对应的可靠性寿命试验,为客户产品可靠度把关。

关于HDD/SSD可靠性测试,就温度因素观点探讨,我们可以从下面试验方向进行验证:

  • 温度变化试验(Thermal Cycling test)在HDD/SSD工作温度范围内,稳定升温,观察其效能变化,找出其弱点。

  • 高低电压/温度试验(4-corner test)利用HDD/SSD高低工作温度值,以及工作电压+/- 5%四个条件,设计成四个象限的corner test,进行长时间的读写混合测试,验证HDD/SSD在高低温度电压下的效能。

  • 高温老化试验(Retention test with High temp)依照JEDEC规范写入数据,接着将待测物断电放进chamber,进行长时间高温测试,最后再将待测物移至测试仪器上进行SMART check以及全碟读取检查。

温度过高对硬盘会有什么样的影响?

这边举高温老化试验来说明,在不同温度与时间的条件下,将硬盘断电放进chamber进行测试后,用执行全碟读取检查的运行时间,作为结果判断依据。如果运行时间延长,即代表产品老化的反应奏效。从(表一)结果可以发现,虽然长时间一定温度下的劣化结果不明显,不过在高温125°C条件下,超过10小时之后,读取效能开始明显的下降。

(表一)

我们接下来探讨125°C/24 hrs.这个条件下的结果。以下这些SSD透过SMART check回报时,皆为正常状态。接着逐一进行全碟读取检查,就可以在此看出些端倪。首先,就运行时间来看,可以发现到「SSD A」效能明显较低,需要最久的时间才能完成测试。另外,从延迟反应来看,「SSD A」相较其他三颗,Rank B以上的延迟时间比例明显提高,故我们可以了解到高温老化对于一些体质较差的SSD来说会造成效能下降的严重影响。

(Rank A低于0.5 mSec,延迟低,效能好;Rank 高于10 mSec,延迟高,效能差。故Rank能集中在AB是相对好的)

针对HDD/SSD可靠度测试,百佳泰提供与日本知名实验室合作之「Hirota Smart Teste」测试仪器与共同开发脚本,结合专为HDD/SSD开发的可程序恒温恒湿试验机来执行可靠性测试。除此之外,更可以依照客户需求,温度/时间客制化、阶梯化设置等控制,来验证客户产品的可靠度。

Hirota Smart Tester 可程序试验仪器执行脚本
测试脚本A TBW Test

(Enterprise & Client)

测试脚本B Evaluation by ON / OFF of

Power Supply

测试脚本C Evaluation by Variable Voltage
测试脚本E SNIA SSS PTS
测试脚本F Low Power Measurement
测试脚本G 4-corner, power on/off, etc…
客制化脚本 By Customer Request
可程序恒温恒湿试验机技术规格
温度范围 -20°C ~ 100°C (operation mode chamber)

85°C ~ 200°C (non-operation mode chamber)

湿度范围 10% ~ 98% RH
可同时执行DUT数量 HDD: 12 Qty. ; SSD: 12 Qty.